一、操作流程：

1、设备准备：

• 光源（波长匹配，如1550 nm）、光功率计、光纤夹具、六轴位移台。

• 清洁光纤端面和芯片耦合区域（使用异丙醇和无尘布）。

2、输入功率校准 P(fiber) ：

• 断开芯片，将光纤直接连接至功率计，记录输出功率 P(in) （需扣除连接器损耗）。

3、芯片耦合功率测量 P(chip)：

• 将光纤对准芯片耦合结构（端面/光栅），通过位移台微调至功率计读数最大。

• 记录稳定后的输出功率 P(out)

4、效率计算：

• 注意：若芯片有多个输出端口，需汇总所有端口功率。

5、波长扫描（可选）：

• 在目标波段（如1520-1580 nm）内步进扫描，验证宽带性能。

二、实验中的常见问题及方案解决

1. 效率测量值异常低

2. 功率读数不稳定

3. 波长依赖性过强

4、多模干扰（光斑分裂/效率波动）

5、长期可靠性问题

三、快速排查流程图

波导耦合系统示意图

台式光功率计示意图