探针台又称探针测试台,主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析,抽查测试等用途。 KETF系列电学测试夹具是用于MOS管的接线测试,与Keithley2600系列源表配套使用,改进了LO端和HI端接口不一致问题。该系列夹具由我司自研生产,一端采用美国原装插排,另一端是LO和HI的标准三同轴接口,可与我司探针台三轴公头线缆直接连接,增加LO短接跳线,可以方便的将双通道的两个LO极短接在一起,提高测试精度,是一款方便好用的测试辅件。 |
![5.jpg](/upload/P9b01c7c7de61404ab8a2687bb2636767.jpg) | ![6.jpg](/upload/Pe6868ddc72e64f47839ffed95860189a.jpg) | 技术优势:
. 适用于Keithley2600系列源表 . 改进了LO端和HI端接口不一致问题 . 一端选用美国原装插排,另一端是标准BNC或三轴接头 . 可与我司探针台三轴公头线缆直接连接 . 增加LO短接跳线,方便LO极短接 . 用于MOS管接线测试,提高测试精度 |
常规选型:
产品型号 | 接口类型 | 漏电精度 | 电压范围 | 适用源表 | KETF-EB | 同轴BNC | 10pA | ≤1400V | 2600系列 | KETF-EX | 三同轴接口 | 100fA | ≤1400V | 2600系列 |
应用介绍: KEITHLEY 2600系列源表后面是一个插排,若直接测试会降低测试精度,我司该系列三轴连接器可以完全匹配该系列源表,增加LO端短接跳线,可以方便的将双通道的两个LO极短接在一起, 用于MOSFET等三端器件的接线测试,提高测试精度!
应用领域: 半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。 谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。
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