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高分辨率激光成像显微镜

探针台又称探针测试台,主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析,抽查测试等用途。

高分辨激光显微镜是一种兼顾显微成像与外引光路功能的多用途显微镜,设备左侧为标准相机接口,兼容CCD或CMOS相机;上端为激光光纤连接口,右侧为LED同轴照明接口,配置五孔物镜转盘,可配5X、10X、20X、50X可见及近红外物镜。广泛应用于科研显微成像、光电流检测及工业相关领域。



技术优势:

.兼顾显微成像及外引光路功能

.左侧为标准相机接口,兼容CCD及CMOS相机

.上端配置标准光纤接口,方便耦合光源

. 右侧LED同轴照明光源接入口

. 高清2000W相机成像相机,1920*1080

. 配置5X、10X、20X、50X物镜(其他可选)

. 24英寸高清显示器


常规选型:

产品型号

配套相机

标配物镜

照明

物镜转盘

显示器

LMU-H

1920*1080

5X/10X/20/50X

LED同轴照明

五孔

24英寸高清


工作方式:

单筒连续变倍显微镜的工作方式相对简单,用户可通过以下步骤来操作:

观察样品:将要观察的样品放置在显微镜的载物台上;

选择物镜:通过旋转物镜转盘选择合适倍率物镜

对焦:使用焦点轮或对焦机构来调整焦点,使样品清晰可见;

观察:一旦完成对焦,您可以观察样品,通过相机成像和分析细节;

调整倍数:如果需要更改放大倍数以观察不同的细节,只需旋转物镜转盘以选择新的倍数。


应用领域:

半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。

谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。