探针台又称探针测试台，主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析，抽查测试等用途。 单筒连续变倍显微镜是一种具有变焦功能的显微镜，允许用户通过调整放大倍数来观察不同的样品和细节。其原理是通过改变光学系统中的透镜组合来实现不同的放大倍数。它通常包括目镜（相机）和物镜两个主要光学部分。单筒连续变倍显微镜通过旋转物镜或目镜中的透镜组合，可以实现连续变焦，从而改变放大倍数。这种显微镜允许用户在不更换物镜或目镜的情况下，通过简单的旋转来实现不同放大倍数的选择。在实际使用中具有较好的灵活性和多功能性。广泛应用于科研及工业领域。 |
| 技术优势：
.变倍比1:6.5，变倍范围0.75X~5X .集成双固定卡位设计升降器，高倍放大下图像无明显抖动，升降器精密调节，具备粗调+精调，最高分辨率1μm .LED光源同轴照明 1920*1080高清成像相机 . 20倍超长工作距离物镜，29.56mm工作距离 . 综合最大放大倍数高达~900倍 . 24英寸高清显示器 |
常规选型：
产品型号 | 变倍比 | 变倍范围 | 物镜倍率（可选） | 工作距离（mm） | 综合放大倍数 | MT750-C | 1:6.5 | 0.75~5X | 20X | 29.56
| ~900 |
工作方式： 单筒连续变倍显微镜的工作方式相对简单，用户可通过以下步骤来操作： 观察样品：将要观察的样品放置在显微镜的载物台上； 调整焦距：通过旋转物镜或目镜中的透镜组合来调整焦距。不同的放大倍数通常会在显微镜上标有刻度，用户可以选择所需的倍数； 对焦：使用焦点轮或对焦机构来调整焦点，使样品清晰可见； 观察：一旦完成对焦，您可以观察样品，通过相机成像和分析细节； 调整倍数：如果需要更改放大倍数以观察不同的细节，只需旋转透镜组合以选择新的倍数。
应用领域： 半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。 谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。
|